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SJ/T 11379-2008 是等離子體顯示器件的標準，該標準詳細規(guī)定了等離子體顯示器件的氣候和機械試驗方法。該標準旨在確保等離子體顯示器件在各種氣候和機械條件下都能正常工作，并且具有一定的可靠性和穩(wěn)定性。
一、范圍：
本部分規(guī)定了氣候和機械的試驗方法。
本部分適用于彩色等離子體顯示模塊（以下稱等離子體顯示器件）。
二、試驗項目：
高低溫試驗、溫濕度循環(huán)試驗、恒定濕熱試驗、低氣壓試驗、振動試驗、沖擊試驗等。
三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱、低氣壓試驗箱、振動試驗機、沖擊試驗臺等。
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.jpg "《SJ/T 11379-2008 等離子體顯示器件 第4部分：氣候和機械試驗方法》標準(圖1)")
五、試驗程序（部分）：
高溫貯存試驗：
a)試驗用箱體內(nèi)的溫度應(yīng)與實驗室內(nèi)溫度一致。當?shù)入x子體顯示器件與實驗室環(huán)境溫度一致后可按照5.6的要求送入試驗用箱體，除非另有要求;
b)將箱體內(nèi)溫度升至要求嚴酷程度所對應(yīng)的溫度,并允許經(jīng)過一定的時間以使等離子體顯示器件達到溫度穩(wěn)定狀態(tài)（GB/T 2421-1999的4.8定義了溫度穩(wěn)定性)。箱體內(nèi)5 min內(nèi)的平均溫度變化的速度不超過3℃/min。試驗溫度應(yīng)按照GB/T 2421-1999中4.6的要求進行測試;
c)將等離子體顯示器件暴露于該高溫環(huán)境中，并且存放相關(guān)規(guī)范所規(guī)定的時間。當溫度穩(wěn)定時即開始計時;
d)如果相關(guān)規(guī)范有要求，可按6.1.4進行中間測量;
e)試驗時間到達后,等離子體顯示器件應(yīng)留在箱體內(nèi)并將溫度逐步降至測量用標準大氣條件所規(guī)定的值。箱體內(nèi)5min內(nèi)的平均溫度變化的速度不超過3℃/min。該過程結(jié)束后，等離子體顯示器件應(yīng)在箱體內(nèi)進行恢復(fù)過程或其他適當過程。
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