常規(guī)低溫試驗(yàn)箱溫度只可達(dá)到-65℃，不能滿足電子元器件、組件、整機(jī)以及材料研究領(lǐng)域在更寬溫度范圍的試驗(yàn)需求。為了解決此問題，行業(yè)需要能達(dá)到更低溫度的試驗(yàn)設(shè)備，為特殊領(lǐng)域的電子元器件、組件的開發(fā)以及材料研究提供理想的溫度環(huán)境試驗(yàn)。

產(chǎn)品名稱：環(huán)儀儀器 深冷試驗(yàn)設(shè)備

試驗(yàn)箱組成：試驗(yàn)箱主要由試驗(yàn)箱體、自增壓液氮容器、液氮絕熱傳輸管道、控制部分等組成。

技術(shù)原理：

1.試驗(yàn)箱的加熱方式是采用鰭片式不銹鋼加熱管對箱內(nèi)空氣進(jìn)行加熱。

2.制冷方式是利用液氨在試驗(yàn)箱內(nèi)噴淋吸熱方式對試驗(yàn)箱進(jìn)行降溫。當(dāng)控制器的設(shè)定溫度低于箱內(nèi)實(shí)際溫度時(shí)，控制器輸出制冷信號開啟制冷電磁閥經(jīng)過輸液管道從增壓后的液氨容器向試驗(yàn)箱內(nèi)輸送液氮，利用液氮的潛熱和顯熱吸收熱量進(jìn)行降溫;

3.當(dāng)控制器的設(shè)定溫度高于試驗(yàn)箱內(nèi)實(shí)際溫度時(shí)，控制器輸出加熱信號，關(guān)閉制冷電磁閥，同時(shí)給箱內(nèi)的加熱裝置通電進(jìn)行加熱升溫?？刂破鞑捎媚：?PID 控制模式，當(dāng)箱內(nèi)實(shí)際溫度接近設(shè)定值時(shí)，調(diào)整輸出比例，直至實(shí)現(xiàn)精確控溫，試驗(yàn)箱的控溫精度在空載時(shí)小于等于±1℃。

技術(shù)指標(biāo)：

1.平均降溫速率：

室溫~-80℃：＞15℃/分鐘(空載)

-80℃~-120℃：＞10℃/分鐘(空載)

-120℃~-150℃：＞5℃/分鐘(空載)

2.室溫~-120℃,連續(xù)工作3小時(shí)，箱體外表面不結(jié)霜;

3.設(shè)備在-80~-150℃之間，保溫2h，表面不得結(jié)霜結(jié)露，各部位不得有液氮及氣體泄漏現(xiàn)象。

如有深冷試驗(yàn)設(shè)備的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。