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LED快速溫變試驗系統(tǒng)

文章出處 : 技術知識 文章編輯 : 環(huán)儀儀器 閱讀量 : 發(fā)表時間 : 2025-05-26

LED快速溫變試驗系統(tǒng)是用來確定產品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲存、運輸、使用的適應性。試驗過程是以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環(huán),溫度循環(huán)試驗的嚴苛程度是以高/低溫度范圍、停留時間以及循環(huán)數來決定的。

LED快速溫變試驗系統(tǒng)(圖1)

試驗標準:GB/T 2423.34、IEC 60068-2-38、GJB150.5等

技術參數:

LED快速溫變試驗系統(tǒng)(圖2)

系統(tǒng)組成:

整套老化系統(tǒng)由1臺快速溫變試驗箱搭配一臺程控多通道老化電源,整套系統(tǒng)共提供40PCB端口。

老化原理:

通過老化排線連接程控多通道LED老化電源與環(huán)境試驗箱,老化排線一端(36p連接器端)插在程控電源輸出端口,另一端(金手指端)通過試驗箱進線孔進入箱體內,固定在高溫老化治具上。

進行老化試驗時候,只需將老化板插在試驗箱內金手指上,設置相應實驗參數即可開始試驗。

LED快速溫變試驗系統(tǒng)(圖3)

產品特點:

1.可以對LED模組在-40℃~150℃溫度范圍內以15℃/S溫度升降溫速率變化下的強化加速測試,實現了在高低溫環(huán)境下對多通道LED模組的單獨測試。

2.可以在大范圍快速溫變環(huán)境下對LED模組的光學參數的測試,提高了測試結果的準確性,測試結果能夠真實反映OLED模組的質量情況。

3.整套試驗系統(tǒng)由軟件控制完成整個測試流程,測試過程無需依賴于人工方式,可以完全自動化進行,檢測過程的效率高。


如有LED快速溫變試驗系統(tǒng)的選型疑問,可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。



文章標簽 : 快速溫變試驗箱

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